Adamand Namiki開發(fā)了NMH-01通過微電機和的光學成像探頭,利用光學干涉實現(xiàn)內(nèi)型面的測量,內(nèi)徑測量*小可達1.1mm,同時測量內(nèi)徑、真圓度、內(nèi)型表面粗糙度和形貌。
關鍵詞:內(nèi)周面劃痕檢測、內(nèi)型面測量、內(nèi)徑檢測、圓度檢測、內(nèi)型面形貌儀 對于精密孔加工零件,例如航空航天儀器中的燃料噴嘴、醫(yī)療器械中的中空零件、分析儀中的精密噴嘴和流體動力軸承,內(nèi)周表面評估的重要性日益增加。
現(xiàn)有的測量儀器可以評估內(nèi)徑較大的加工零件的內(nèi)徑、圓度、表面粗糙度和形狀。然而,除非將零件的主體切成兩半,否則這些儀器無法測量孔加工零件。
Namiki Adamant 開發(fā)了“NMH-01 內(nèi)型面測量儀 ”,這是一種非損傷的內(nèi)周面測量儀,可以利用近紅外光的光學干涉實現(xiàn)孔內(nèi)周面的可視化。
由于Namiki Adamant的微電機技術和光通信技術,使這項的發(fā)明成為可能。它結(jié)合了我們世界上*小的 φ0.9mm 電機和我們獲得的光學成像探頭,并配備了我們獲得的傾斜校正算法。它具有以下新功能: (1) 內(nèi)徑測量小至φ1.1mm;(2)同時測量內(nèi)徑、圓度、形狀;(3) 重復精度σ=0.2μm;
我們的儀器不僅可以觀察和測量孔加工零件的內(nèi)周面,還可以同時評估內(nèi)徑、圓度、表面粗糙度和形狀,過去需要分別使用單獨的儀器。這些功能將測量時間從約 30 分鐘顯著縮短至 30 秒,有助于提高客戶的測量效率。
可測量的*小內(nèi)徑:1.1mm
重復精度σ=0.2μm
自由設定:獨創(chuàng)計算自動調(diào)整工作傾角。
測量時間:30min(常規(guī))縮短為30sec(同時測量內(nèi)徑/圓度/形狀)
安裝*小的φ0.9mm電機的可測量*小直徑φ1.1mm。
重復測量精度:0.2μm
通過半透明標準管*限度地減少光學振動和波動。
設置自由測量
通過算法處理自動調(diào)整工件的傾斜和偏心狀態(tài)。
連桿檢測
軸承檢測
劃痕檢測
其他推薦產(chǎn)品
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NMH-01 內(nèi)型面測量儀
Adamand Namiki開發(fā)了NMH-01通過微電機和的光學成像探頭,利用光學干涉實現(xiàn)內(nèi)型面的測量,內(nèi)徑測量*小可達1.1mm,同時測量內(nèi)徑、真圓度、內(nèi)型表面粗糙度和形貌。
關鍵詞:內(nèi)周面劃痕檢測、內(nèi)型面測量、內(nèi)徑檢測、圓度檢測、內(nèi)型面形貌儀
對于精密孔加工零件,例如航空航天儀器中的燃料噴嘴、醫(yī)療器械中的中空零件、分析儀中的精密噴嘴和流體動力軸承,內(nèi)周表面評估的重要性日益增加。
現(xiàn)有的測量儀器可以評估內(nèi)徑較大的加工零件的內(nèi)徑、圓度、表面粗糙度和形狀。然而,除非將零件的主體切成兩半,否則這些儀器無法測量孔加工零件。
Namiki Adamant 開發(fā)了“NMH-01 內(nèi)型面測量儀 ”,這是一種非損傷的內(nèi)周面測量儀,可以利用近紅外光的光學干涉實現(xiàn)孔內(nèi)周面的可視化。
由于Namiki Adamant的微電機技術和光通信技術,使這項的發(fā)明成為可能。它結(jié)合了我們世界上*小的 φ0.9mm 電機和我們獲得的光學成像探頭,并配備了我們獲得的傾斜校正算法。它具有以下新功能: (1) 內(nèi)徑測量小至φ1.1mm;(2)同時測量內(nèi)徑、圓度、形狀;(3) 重復精度σ=0.2μm;
我們的儀器不僅可以觀察和測量孔加工零件的內(nèi)周面,還可以同時評估內(nèi)徑、圓度、表面粗糙度和形狀,過去需要分別使用單獨的儀器。這些功能將測量時間從約 30 分鐘顯著縮短至 30 秒,有助于提高客戶的測量效率。
NMH-01 內(nèi)型面測量儀特點:
可測量的*小內(nèi)徑:1.1mm
重復精度σ=0.2μm
自由設定:獨創(chuàng)計算自動調(diào)整工作傾角。
測量時間:30min(常規(guī))縮短為30sec(同時測量內(nèi)徑/圓度/形狀)
安裝*小的φ0.9mm電機的可測量*小直徑φ1.1mm。
重復測量精度:0.2μm
通過半透明標準管*限度地減少光學振動和波動。
設置自由測量
通過算法處理自動調(diào)整工件的傾斜和偏心狀態(tài)。
NMH-01 內(nèi)型面測量儀測量示例:
連桿檢測
軸承檢測
劃痕檢測