測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片，*用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測試檔案。也就是我們?cè)谀ず駵y試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法，是測量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系，來得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對(duì)于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。

CAL鍍層標(biāo)準(zhǔn)片適用于費(fèi)希爾Fischer、宏德Roentgenanalytik、牛津Oxford、CMI、熱電Thermo、Veeco、微先鋒Micro Pioneer、精工Seiko、島津、電測、博曼BOWMAN、禾苗、納優(yōu)、天瑞、華唯等各廠牌X-ray（X射線測厚儀）、β-ray（β射線測厚儀）、磁感式及渦電流等多種原理的設(shè)備。