安捷倫4339B毫歐表詳細說明: 4339B毫歐表特點:·測試信號電流低且可選擇:1μA~10mA ·測量范圍寬:10μΩ~100kΩ ·分辨率:10μΩ ·接觸檢查功能 ·1kHz交流測量 ·測量速度高:34ms ·內設比較器 ·自動測量方式在低電流電路中,機電元件的接觸故障是元件可靠性中的主要問題。HP 4338B提供可選擇的低交流測試信號(1μA~10mA)。用戶目前可在低電流的條件下來表征機電元件的低阻特性。10μΩ的高分辨率可用來確定繼電器、開關、接頭、印制電路板圖形和電纜在接觸電阻測試中的微小差別。1kHz測試信號消除了由熱電對被測元件接觸的影響而引入的潛在誤差。1kHz的交流測試信號是檢查電池內阻的好方法,因為它避免了直流能量的消耗。 高速測量 高速(34ms)內設比較器和HP-IB/處理器接口有可能用自動處理器和外部計算機構成一個測量系統(tǒng),使生產測試時間縮短到低限度。
自動測量方式 在進行大量連續(xù)的測試、而測試信號電平又不是很主要的因素時,自動測量功能會使儀器選擇合適的測試信號并設定測量范圍。 4339B毫歐表技術指標:(全面的技術指標請參閱技術資料) 測量功能 測量參數(shù):R(交流電阻),X(電抗),L(電感),|Z|(阻抗),θ(相位[°]) 組合參數(shù):R,R-X,R-L,|Z|-θ(只適用于串聯(lián)模式) 數(shù)學功能:偏差和相對偏差(以百分比表示) 顯示數(shù)字:3.4或5位(可選擇) 測試信號特性 測試頻率:1kHz 頻率精度:±0.1% 測試信號電平:1μA,10μA,100μA,1mA,10mArms 電平精度:±(10%+0.2μA) 樣品兩端的大電壓:在任何情況下大為20mV峰值 測量范圍 參數(shù) 測量范圍 R 10μΩ~100kΩ X|Z| 10μΩ~100kΩ (典型值) L 10nH~10H(典型值) θ -180°~+180°(典型值) 測量精度:R的基本精度為±0.4% 測量時間:從觸發(fā)命令到處理器界面端口上的結束測量(EOM)信號輸出的時間間隔 模式 時間(典型值) 短 34ms 中等 70ms 長 900ms 修正功能 短路誤差為0:消除由測試夾具中雜散寄生阻抗引的測量誤差
比較功能 對每個一次測量參數(shù)和二次測量參數(shù)設立高/符合/低界限
接觸檢查功能 可以檢測測試夾具與器件之間的接觸故障
其它功能 疊加直流:在測量端可能給出±42Vdc(大值) 存儲/調用:可以由內部非易失存儲器對10種儀器設置進行存儲/調 用 連續(xù)存儲功能:若儀器被切斷或發(fā)生電源故障,儀器設置將自動被存 儲起來(在23±5℃時≤72小時) HP-IB接口:所有控制設置、被測值和比較器信息 處理器接口:所有輸出信號為負邏輯,光隔離開路集電極 輸出信號包括:高/符合/低、變址,測量結束和告警。輸入信號是健鎖定和外觸發(fā)
一般指標 電源要求:198~264V,47~66Hz45VAmax 工作溫度:0°~45℃ 尺寸:320mm(寬)×100mm(高)×300mm(長) 重量:4.5kg
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安捷倫4339B毫歐表詳細說明:
4339B毫歐表特點:
·測試信號電流低且可選擇:1μA~10mA
·測量范圍寬:10μΩ~100kΩ
·分辨率:10μΩ
·接觸檢查功能
·1kHz交流測量
·測量速度高:34ms
·內設比較器
·自動測量方式
在低電流電路中,機電元件的接觸故障是元件可靠性中的主要問題。HP 4338B提供可選擇的低交流測試信號(1μA~10mA)。用戶目前可在低電流的條件下來表征機電元件的低阻特性。10μΩ的高分辨率可用來確定繼電器、開關、接頭、印制電路板圖形和電纜在接觸電阻測試中的微小差別。1kHz測試信號消除了由熱電對被測元件接觸的影響而引入的潛在誤差。1kHz的交流測試信號是檢查電池內阻的好方法,因為它避免了直流能量的消耗。
高速測量
高速(34ms)內設比較器和HP-IB/處理器接口有可能用自動處理器和外部計算機構成一個測量系統(tǒng),使生產測試時間縮短到低限度。
自動測量方式
在進行大量連續(xù)的測試、而測試信號電平又不是很主要的因素時,自動測量功能會使儀器選擇合適的測試信號并設定測量范圍。
4339B毫歐表技術指標:
(全面的技術指標請參閱技術資料)
測量功能
測量參數(shù):R(交流電阻),X(電抗),L(電感),|Z|(阻抗),θ(相位[°])
組合參數(shù):R,R-X,R-L,|Z|-θ(只適用于串聯(lián)模式)
數(shù)學功能:偏差和相對偏差(以百分比表示)
顯示數(shù)字:3.4或5位(可選擇)
測試信號特性
測試頻率:1kHz
頻率精度:±0.1%
測試信號電平:1μA,10μA,100μA,1mA,10mArms
電平精度:±(10%+0.2μA)
樣品兩端的大電壓:在任何情況下大為20mV峰值
測量范圍
參數(shù) 測量范圍
R 10μΩ~100kΩ
X|Z| 10μΩ~100kΩ (典型值)
L 10nH~10H(典型值)
θ -180°~+180°(典型值)
測量精度:R的基本精度為±0.4%
測量時間:從觸發(fā)命令到處理器界面端口上的結束測量(EOM)信號輸出的時間間隔
模式 時間(典型值)
短 34ms
中等 70ms
長 900ms
修正功能
短路誤差為0:消除由測試夾具中雜散寄生阻抗引的測量誤差
比較功能
對每個一次測量參數(shù)和二次測量參數(shù)設立高/符合/低界限
接觸檢查功能
可以檢測測試夾具與器件之間的接觸故障
其它功能
疊加直流:在測量端可能給出±42Vdc(大值)
存儲/調用:可以由內部非易失存儲器對10種儀器設置進行存儲/調 用
連續(xù)存儲功能:若儀器被切斷或發(fā)生電源故障,儀器設置將自動被存 儲起來(在23±5℃時≤72小時)
HP-IB接口:所有控制設置、被測值和比較器信息
處理器接口:所有輸出信號為負邏輯,光隔離開路集電極
輸出信號包括:高/符合/低、變址,測量結束和告警。輸入信號是健鎖定和外觸發(fā)
一般指標
電源要求:198~264V,47~66Hz45VAmax
工作溫度:0°~45℃
尺寸:320mm(寬)×100mm(高)×300mm(長)
重量:4.5kg