能量色散型X射線熒光分析光譜儀

——ROHS2.0行業(yè)解決方案

RoHS檢測重金屬環(huán)保管控解決方案

高科技行業(yè)的發(fā)展迅速，在便利人們生活的同時，也產(chǎn)生了大量的電子制品和其他工業(yè)產(chǎn)品。這些產(chǎn)品一旦廢棄，其中所含的有毒有害物質(zhì)將可能破壞環(huán)境、危害人類健康。為了應(yīng)對這樣的挑戰(zhàn)，不同地區(qū)出臺了多種環(huán)保法規(guī)，限制有害物質(zhì)在各種產(chǎn)品的使用。如今，對來料和產(chǎn)品的環(huán)保合規(guī)性檢測，既是企業(yè)對環(huán)境的一份責(zé)任。

 ScopeX是一款于RoHS/ELV法規(guī)限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。其融匯全球*的無鹵分析技術(shù)，配備無鹵測試效果好的智能真空系統(tǒng)，在檢測任何含鹵素有害物質(zhì)的產(chǎn)品同時，亦適用于全元素和RoHS分析。

X射線熒光分析法原理及特點

物質(zhì)在被一定波長的X射線照射時，元素將處于激發(fā)態(tài)而發(fā)射出光子，形成一種熒光X射線。不同元素激發(fā)態(tài)能量大小不一樣，所產(chǎn)生的熒光X射線不同。ScopeX的高壓電源給X光管提供管壓和管流，從而激發(fā)出連續(xù)的X射線。X射線照射到樣品上產(chǎn)生具有樣品特征的X射線熒光。ScopeX通過檢測元素特有的X射線的光子能量進行定性分析，檢測X射線的量值進行定量分析。

硬件配置

分析性能佳

配合的XRF分析軟件，融合經(jīng)驗系數(shù)法、基本參數(shù)法（FP法）等分析方法，測試數(shù)據(jù)的準確性能得到全面保證。

經(jīng)驗系數(shù)法：儀器依據(jù)對標準樣品的測定，確定影響系數(shù)。對標準樣品要求高，需和待測樣品類型相近，校正模型簡單。

基本參數(shù)法（FP法）：儀器根據(jù)實際檢測物質(zhì)，通過對多種物理量建模計算確定參數(shù)。對標準樣品要求不高，計算較復(fù)雜，適合缺少對應(yīng)標樣的物質(zhì)檢測。

廣泛的通用性

緊湊機身 大樣品室

引來靠前的工業(yè)設(shè)計及人體工程學(xué)理念，儀器整體設(shè)計美觀大方，富有科技感。相較于競品，更小的機身體積（570*400*350mm）和更大的樣品室（400*300*116mm）。節(jié)約空間的同時帶來更好的樣品兼容性。無論是不同形態(tài)（固、液、氣、薄膜等）還是不同形狀（塊狀、片狀、線狀等）的樣品，均可以被分析。

*智能的分析軟件

一鍵操作 省心省力

一鍵自動測試，準直器、濾光片自動切換，測試樣片自動拍照保存，測試報告自動彈出，供應(yīng)商信息自動篩選和保存。

輕松自定義

在內(nèi)置模板的基礎(chǔ)上提供多種自定義選項，可以根據(jù)篩選需要變更閾值和判定字符串，實現(xiàn)對不同材料、不同元素的個性化篩選。

便于管理

通過權(quán)限分級管理，操作人員可以使用不同的用戶名和密碼登錄系統(tǒng)，從而將測試報告與測試人員綁定。多樣的測試報告輸出格式（Excel、PDF等），并且可以定制測試報告內(nèi)容，滿足不同的測試數(shù)據(jù)管理需求。

X射線管自動老化

X射線管閑置一段時間后，其內(nèi)部的真空度會有所降低，若不經(jīng)老化直接使用，會導(dǎo)致X射線管損壞。 在軟件中配置了X射線管自動老化功能，保護設(shè)備，*小化裝置維護所需的精

①RoHS指令管控的產(chǎn)品：大型家電、小型家電、信息技術(shù)及通訊設(shè)備、電動工具、玩具及其他電子電氣設(shè)備；

RoHS即是《電氣、電子設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)指令》，用于規(guī)范電子電氣產(chǎn)品的材料及工藝標準，使之更加有利于人體健康及環(huán)境保護。它不僅包括整機產(chǎn)品，而且包括生產(chǎn)整機所使用的零部件、原材料及包裝件，關(guān)系到整個生產(chǎn)鏈。

②無鹵指令管控的產(chǎn)品：用含有Cl、Br等元素的阻燃劑作為原料的產(chǎn)品；

Cl、Br等鹵素經(jīng)常出現(xiàn)在阻燃劑中，如PBB、PBDE等。此種阻燃劑無法回收使用，而且在燃燒與加熱過程中會釋放有害物質(zhì)，威脅到人類身體的健康、環(huán)境和下一代子孫。在當(dāng)前的技術(shù)條件下，含鹵阻燃劑因其優(yōu)異的性能難以被完全取代，因此對其使用量嚴加限制顯得更加重要。

③ELV指令的篩選分析：各種機械零部件結(jié)構(gòu)分析及鍍層厚度、化學(xué)合成外膜附著量的檢測。