ATX220涂層測(cè)厚儀概述

       ATX220涂層測(cè)厚儀是一款便攜式涂鍍層測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密的進(jìn)行涂鍍層厚度的測(cè)量。即可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。通過(guò)更換不同的側(cè)頭，還可以滿足多種測(cè)量的需要。ATX220涂層測(cè)厚儀能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)的儀器。

ATX220涂層測(cè)厚儀符合以下標(biāo)準(zhǔn)：

• GB/T4956-1985 磁性方法

• GB/T4957-1985 渦流方法

• JB/T8393-1996 磁性和渦流覆層測(cè)厚儀

• JJG889-95 《磁阻法測(cè)厚儀》

• JJG818-93 《電渦流式測(cè)厚儀》

ATX220涂層測(cè)厚儀功能特點(diǎn)

• 采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法：既然無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金等)上非磁性覆層厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）又可測(cè)量非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層厚度(如:橡膠、油漆、陽(yáng)極氧化膜等)

• 可使用7種測(cè)頭（F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1）

• 具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）

• 具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（A-B）

• 設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值、大值（MAX）、小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差

• 可采用兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正

• 具有存貯功能：可存貯600個(gè)測(cè)量值

• 具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)

• 可設(shè)置限界：對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警

• 具有電源欠壓指示功能

• 操作過(guò)程有蜂鳴聲提示

• 具有錯(cuò)誤提示功能，通過(guò)屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示

• 設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式

• 采用塑料外殼，輕便、耐用

ATX220涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

• 測(cè)頭類型：可選，見(jiàn)涂層測(cè)厚儀探頭參數(shù)表

• 測(cè)量原理：磁感應(yīng)和電渦流

• 測(cè)量范圍：探頭決定

• 低限分辨力：探頭決定

• 探頭連接方式：分體式導(dǎo)線連接（可更換）

• 示值誤差：

     1、一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：探頭決定
     2、兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：探頭決定

• 測(cè)量條件：

    1、小曲率半徑(mm)：探頭決定
    2、基體小面積的直徑(mm)：探頭決定
    3、小臨界厚度(mm)：探頭決定

• 溫濕度：0~40℃ | 20%RH～90%RH

• 統(tǒng)計(jì)功能：平均值、大值（MAX）、小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差

• 工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)

• 測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）

• 上下限設(shè)置：有

• 存儲(chǔ)能力：600個(gè)測(cè)量值

• 關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)和自動(dòng)

• 電源：兩節(jié)1.5v電池

• 外形尺寸：50×120×25mm

• 重量：400g

ATX220涂層測(cè)厚儀基本配置

• ATX220涂層測(cè)厚儀主機(jī)

• F測(cè)頭或N測(cè)頭

• 標(biāo)準(zhǔn)片一套

• 鐵基體或鋁基體

• 電池

• 使用說(shuō)明書(shū)

ATX220涂層測(cè)厚儀可選附件

• 涂層測(cè)厚儀探頭

• 通信線纜

• 通信軟件

• 時(shí)代涂層測(cè)厚儀選型表