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P系列代表的是采用Q8-902中英文彩色觸摸屏式人機界面(畫面對談式)電腦控制的可程式恒溫恒濕試驗箱.USB曲線記錄數(shù)據(jù)儲存裝置.
低濕試驗箱,除了可仿真產品在一般氣候環(huán)境溫濕組合條件下(高低溫操作&儲存、溫度循環(huán)、高溫高濕、結露試驗)..等,去檢測產品本身的適應能力與特性是否改變,以及針對產品在(低溫低濕、高溫低濕、高溫高濕降到低溫低濕..等)環(huán)境下是否會發(fā)生龜裂、破損,另外在低濕環(huán)境中的空氣靜電量是一般環(huán)境的30倍以上,據(jù)統(tǒng)計,半導體破壞率:59%是由靜電所引起的。 ※ 需符合國際性規(guī)范之要求(IEC、JIS、GB、MIL…)以達到國際間量測程序一致性(含測試步驟、條件、方法)避免認知不同,并縮小量測不確定的因素范圍發(fā)生。
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服務熱線 ? 羅偉
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P系列代表的是采用Q8-902中英文彩色觸摸屏式人機界面(畫面對談式)電腦控制的可程式恒溫恒濕試驗箱.USB曲線記錄數(shù)據(jù)儲存裝置.
低濕試驗箱,除了可仿真產品在一般氣候環(huán)境溫濕組合條件下(高低溫操作&儲存、溫度循環(huán)、高溫高濕、結露試驗)..等,去檢測產品本身的適應能力與特性是否改變,以及針對產品在(低溫低濕、高溫低濕、高溫高濕降到低溫低濕..等)環(huán)境下是否會發(fā)生龜裂、破損,另外在低濕環(huán)境中的空氣靜電量是一般環(huán)境的30倍以上,據(jù)統(tǒng)計,半導體破壞率:59%是由靜電所引起的。
※ 需符合國際性規(guī)范之要求(IEC、JIS、GB、MIL…)以達到國際間量測程序一致性(含測試步驟、條件、方法)避免認知不同,并縮小量測不確定的因素范圍發(fā)生。
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可設定程式120組,1200段,循環(huán)次數(shù)可達999次,每段時間大設定99小時59分;
具有RS232通信接口,可通過PC隨意控制和監(jiān)視,還可選配RS485接口,USB曲線記錄和數(shù)據(jù)儲存裝置使用便捷;
具有9組PID參數(shù)調節(jié),以達到穩(wěn)定、之控制;
具有程式修正、清除、預約、啟動、停電、記憶、按鍵鎖定等功能;
具有多種報警功能,故障發(fā)生同時,可通過熒幕故障顯示,消除故障;
送風循環(huán)設計,溫濕度分布均勻性佳;
具有自動防霜裝置的真空雙重玻璃,可清晰觀察試驗箱內的試品;
前置式自動進水裝置,方便增加加濕水。
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宏展Q8-902溫濕度控制器系統(tǒng)
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基本畫面群
特有功能
1. 曲線,歷史數(shù)據(jù)可由USB按日期選擇拷貝。
2. 按60秒采樣,可記錄保存120天數(shù)據(jù)及曲線。
2. 標配R-232C電腦接口。
3. 因特網(wǎng)聯(lián)機界面(需訂貨時注明)。
運轉預計結束時間表示,了解大概結束時間。
通電時間積算,運行時間積算。
程式結束規(guī)劃(程式連接,轉到定值,停機等)。
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標準GB 10586-89濕熱試驗箱技術條件
標準GB 10592-89高、低溫試驗箱技術條件
標準GB/T10589-1989低溫試驗箱技術條件
滿足標準
國際電工委員會標準IEC68-2-03_試驗方法Ca_穩(wěn)態(tài)濕熱
國際電工委員會標準IEC68-2-01_試驗方法A_冷
國際電工委員會標準IEC68-2-02_試驗方法B_干熱
美國標準MIL-STD-810F-507.4 濕度
美國標準MIL-STD-810F-501.4 高溫
美國標準MIL-STD-810F-502.4 低溫
美國標準MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環(huán)試驗
美國標準MIL-STD810D方法502.2
美國標準MIL-STD810方法507.2程序3
日本工業(yè)標準JIS C60068-2-3-1987 試驗Ca:濕熱、穩(wěn)態(tài)
日本工業(yè)標準JIS C60068-2-2-1995 試驗B:干熱
日本工業(yè)標準JIS C60068-2-1-1995 試驗A:低溫
美國半導體行業(yè)標準JESD22-A101-B-2004 恒定溫濕度試驗
美國半導體行業(yè)標準JESD22-A103-C-2004 高溫儲存試驗
美國半導體行業(yè)標準JESD22-A119-2004 低溫儲存試驗
標準GB/T 2423.1-2001 低溫
標準GB/T 2423.2-2001 高溫
標準GB/T 2423.3-1993 恒定濕熱試驗方法
標準GB2423.34-86 溫濕度組合循環(huán)試驗
標準GB/T2423.4-93方法
環(huán)境試驗設備方法GJB150.9-8 濕熱試驗
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W x D x H cm
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服務熱線 ? 羅偉