庫號：D368394 

方塊電阻測試儀是一種依照類似的標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。

該儀器以大規(guī)模集成電路為主要；用基準電源和運算放大器組成高精度穩(wěn)流源；帶回路正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數(shù)，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點。

◆ 特點：

1

采用大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩(wěn)定，低功耗；

2

以大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰；

3

采用單個電池供電，帶電池欠壓指示；

4

體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；

5

特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針接觸被測材料及保護薄膜



6

探頭帶抗靜電模塊



◆ 指標：

測量范圍

按方塊電阻量值大小分為二個量程檔：

1.方塊電阻 1.00～199.99Ω/□；

2.方塊電阻 10.0～1999.9Ω/□；

恒流源

測量過程：≤±0.8%

模數(shù)轉換器

量程：0～199.99mv；

分辨率：10μv；

方式：LCD大屏幕顯示；極性，量程均自動顯示；小數(shù)點同步顯示；

測量不確定度

在整個量程范圍內(nèi)，測量不確定度≤5%

四探針探頭規(guī)格

間距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ

電源

9V疊層電池1節(jié)

方塊電阻測試儀是一種依照類似的標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。

該儀器以大規(guī)模集成電路為主要；用基準電源和運算放大器組成高精度穩(wěn)流源；帶回路正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數(shù)，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點。

◆ 特點：

1

采用大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩(wěn)定，低功耗；

2

以大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰；

3

采用單個電池供電，帶電池欠壓指示；

4

體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；

5

特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針接觸被測材料及保護薄膜



6

探頭帶抗靜電模塊



◆ 指標：

測量范圍

按方塊電阻量值大小分為二個量程檔：

1.方塊電阻 1.00～199.99Ω/□；

2.方塊電阻 10.0～1999.9Ω/□；

恒流源

測量過程：≤±0.8%

模數(shù)轉換器

量程：0～199.99mv；

分辨率：10μv；

方式：LCD大屏幕顯示；極性，量程均自動顯示；小數(shù)點同步顯示；

測量不確定度

在整個量程范圍內(nèi)，測量不確定度≤5%

四探針探頭規(guī)格

間距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ

電源

9V疊層電池1節(jié)