可靠性測(cè)試通常需要多塊芯片在供電狀態(tài)下長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行，以HTOL為例，樣品數(shù)至少為231塊，測(cè)試時(shí)長(zhǎng)高達(dá)1000小時(shí)。N23020電壓精度六萬分，長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定性40ppm/1000h，電壓紋波噪聲≤2mVrms，可有效保證用戶測(cè)試過程可靠性。

芯片研發(fā)、流片、大規(guī)模生產(chǎn)過程中，通常需要對(duì)多組樣品進(jìn)行可靠性測(cè)試，此外，芯片或拼版的漏電流也是其重要測(cè)試指標(biāo)，傳統(tǒng)方案通常采用多臺(tái)線性電源配合數(shù)采實(shí)現(xiàn)，接線麻煩，且占用測(cè)試空間。N23020在19英寸3U機(jī)箱內(nèi)集成了高達(dá)16個(gè)電源通道，支持μA級(jí)電流測(cè)量，為芯片大規(guī)模測(cè)試提供了高集成度的解決方案。

N23020具有快速的動(dòng)態(tài)響應(yīng)能力，在滿電壓輸出下，負(fù)載由10%突變到90%，電壓恢復(fù)到原電壓減50mV以內(nèi)的時(shí)間＜100μs，保證電壓或者電流上升波形高速且無過沖，為待測(cè)芯片提供穩(wěn)定的供電。

N23020支持序列編輯功能，用戶可設(shè)置輸出電壓、輸出電流以及單步運(yùn)行時(shí)間，可在本地自定義編輯100組電壓電流序列。

通訊接口豐富，滿足自動(dòng)化測(cè)試

支持RS485、LAN、CAN端口，方便用戶組建自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。