Nikon L200擁有CFI60光學系統(tǒng)用于集成電路檢查顯微鏡,由此獲得全所未有的高對比圖像。使得物鏡不僅工作距離更長,而且" target="_blank" href="http://econlp.com/j.php?u=ahttps://baike.sogou.com/lemma/ShowInnerLink.htm?lemmaId=8409921&ss_c=ssc.citiao.">數(shù)值孔徑更高:符合SEMI S293A,S8-95S設計;利用" target="_blank" href="http://econlp.com/j.php?u=ahttps://baike.sogou.com/lemma/ShowInnerLink.htm?lemmaId=65470512&ss_c=ssc.citiao.">計算機輔助工程系統(tǒng),對機身進行防震設計;具有全面的防污染措施。
適用于科學研究分析,材料分析,微電子觀察,TFT 液晶檢查,4寸 5寸 6寸 8寸半導體晶圓檢查
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Nikon L200擁有CFI60光學系統(tǒng)用于集成電路檢查顯微鏡,由此獲得全所未有的高對比圖像。使得物鏡不僅工作距離更長,而且" target="_blank" href="http://econlp.com/j.php?u=ahttps://baike.sogou.com/lemma/ShowInnerLink.htm?lemmaId=8409921&ss_c=ssc.citiao.">數(shù)值孔徑 更高:符合SEMI S293A,S8-95S設計;利用" target="_blank" href="http://econlp.com/j.php?u=ahttps://baike.sogou.com/lemma/ShowInnerLink.htm?lemmaId=65470512&ss_c=ssc.citiao.">計算機輔助工程 系統(tǒng),對機身進行防震設計;具有全面的防污染措施。
適用于科學研究分析,材料分析,微電子觀察,TFT 液晶檢查,4寸 5寸 6寸 8寸半導體晶圓檢查