價格
¥1,000,000.00
型號
Xradia
品牌
蔡司工業(yè)CT
所在地
江蘇省 蘇州市
更新時間
2023-07-07 03:48:01
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次
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使用蔡司X射線探傷儀 無損檢測設(shè)備Xradia 810 Ultra X射線顯微鏡實現(xiàn)低至50 nm的空間分辨率,這是基于實驗室的X射線成像系統(tǒng)中*高的。 通過非破壞性3D成像體驗的性能和靈活性,在當(dāng)今的突破性研究中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。 創(chuàng)新的Xradia Ultra架構(gòu)采用的X射線光學(xué)系統(tǒng),采用同步加速器技術(shù),具有吸收和相位對比。 現(xiàn)在能量為5.4 keV,您可以將納米級成像的吞吐量提高10倍。使用Xradia 810 Ultra的低能量,為中低Z樣品實現(xiàn)更好的對比度和圖像質(zhì)量。 期望在不同條件下實現(xiàn)*的原位和4D能力,以研究結(jié)構(gòu)演變。 利用3D X射線成像擴展材料研究,生命科學(xué),自然資源和各種工業(yè)應(yīng)用的探索極限。
高分辨率,更高對比度,更快
蔡司解決方案在實驗室儀器中提供世界上的非破壞性3D X射線成像,分辨率低至50 nm。除了吸收和Zernike相位對比外,蔡司X射線探傷儀 無損檢測設(shè)備Xradia 810 Ultra采用了從同步加速器改進的*光學(xué)系統(tǒng),為您的研究提供業(yè)界*佳的分辨率和對比度。這種創(chuàng)新儀器通過為您的傳統(tǒng)成像工作流程添加關(guān)鍵的非破壞性步驟,實現(xiàn)了突破性研究。
通過為5.4 keV的研究提供更高的對比度,X射線探傷儀 無損檢測設(shè)備Xradia 810 Ultra可以為各種難以成像的材料提供高分辨率的X射線成像。通過吸收和相襯來優(yōu)化您的成像,適用于各種材料,如聚合物,氧化物,復(fù)合材料,燃料電池,地質(zhì)樣品和生物材料。 ZEISS XRM在同步加速器和全球?qū)嶒炇以O(shè)施中率*行了納米級X射線成像,提供了突破性的解決方案,幫助您將研究放在研究的*前沿。